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pct高壓加速老化試驗箱LED光源衰退的原因分析

更新時間：2016-06-02      瀏覽次數(shù)：817
　　pct高壓加速老化試驗箱LED光源衰退的原因分析
　　pct高壓加速老化試驗箱是測驗半導體封裝之濕氣才能，待測商品被置于苛刻之溫度、濕度及壓力下測驗，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口進入封裝體，多見之毛病方法為自動金屬化區(qū)域腐蝕形成之斷路，或封裝體引腳間因污染形成短路等。
　　LED具有低電壓、低能耗、長壽數(shù)、高可靠性、易保護等長處,已變成照明職業(yè)的干流。盡管LED光源已逐漸替代別的光源變成照明職業(yè)的干流，但其壽數(shù)及其可靠性仍有待進步，這已變成現(xiàn)階段的研討要點。
　　LED光源可靠性一般采納pct高壓加速老化試驗箱進行一個溫度加速老化實驗，在LED樣品實驗中跟著老化時刻的增加，會產(chǎn)生光衰退，而產(chǎn)生光闌珊的因素有熒光粉、硅膠以及芯片的衰減。

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